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    HAST非饱和高压加速老化箱的性能特点和规范要求
    更新时间:2023-02-19   点击次数:464次
      HAST非饱和高压加速老化箱的HAST试验是指高加速温度、湿度、应力试验。随着近来电子技术的高速发展,几年前刚刚出现的的加速试验可能不再适应当今的技术了,尤其是那些专门针对微电子产品的加速试验。例如,由于塑料集成电路包的发展,现在用传统的、普遍被接受的85℃/85%RH的温度/湿度试验需要花上千小时才能检测出新式集成电路的失效。在大多数情况下,试验样本在整个试验中不发生任何失效。不发生失效的试验是说明不了什么问题的。而产品在使用中必定会偶尔失效。因此,需要进一步改进加速试验。HSAT就是为代替老的温度/湿度试验而开发的方法。
      
      HAST非饱和高压加速老化箱设备特点:
      
      1.标准设计更安全:内胆采用圆弧设计防止结露滴水,符合国家安全容器规范;
      
      2.多重保护功能:各种超压超温、干烧漏电及误操作等多重人机保护;
      
      3.稳定性更高:控制模式分为干湿球、不饱和、湿润饱和等3种模式,确保测试稳定性;
      
      4.湿度自由选择:饱和(100%R.H湿度)与非饱和(75%R.H湿度)自由设定);
      
      5.智能化高:支持电脑连接,利用usb数据、曲线导出保存。
      
      HAST非饱和高压加速老化箱的规范要求:
      
      1.HAST老化箱内胆采用圆弧设计,可以防止试验结露滴水现象,从而避免产品在试验过程中受过热蒸汽直接冲击影响试验结果。
      
      2.配备双层不锈钢产品架,也可根据客户产品规格尺寸免费量身定制专用产品架。
      
      3.标准配备8条试验样品信号施加端子,也可以根据需要增加端子数量,最多具备55条偏压端子。
      
      4.具备特制的试样架免去繁杂的接线作业。

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